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              • 日本日置 C測試儀
                日本日置 C測試儀

                日本日置 C測試儀 3506-10 對應1MHz測試, 低容量,高精度,高速測試 ● 模擬測量時間0.6ms(1MHz)的高速測量 ● 提高了抗干擾性,在產線的上也能實現高反復精度 ● 1kHz、1MHz測量下,低電容的貼片時可穩定測量 ● 根據BIN的測定區分容量

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              • 日本日置 C測試儀
                日本日置 C測試儀

                日本日置 C測試儀 3504-40/50/60 封裝機、分選機、電容器的合格與否的判斷和等級分類等 ● 高速測量2ms ● 能根據C 和D (損耗系數*2)的測量值,進行被測物合格與否的判斷 ● 對應測試線,比較器功能/觸發輸出功能 ● 3504-60/-50用BIN的分選接口進行被測物體的測試 ● 3504-40記錄工具,實現高速/低成本的測試 ● 查出全機測量中的接觸錯誤,提高成品率

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